青島GM220涂層測厚儀使用方法

使用涂層測厚儀時應(yīng)當遵守的規(guī)定：
a基體金屬特性對于磁性方法，規(guī)范片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，規(guī)范片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b基體金屬厚度檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。
c邊緣效應(yīng)不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。
d曲率不應(yīng)在試件的彎曲外表上測量。
e讀數(shù)次數(shù)通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必需在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。
覆蓋層厚度的局部差別，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，外表粗造時更應(yīng)如此。
f外表清潔度丈量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

青島GM220涂層測厚儀使用方法影響測量的若干因素：

基體金屬磁化：磁性法測量受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上 對儀器進行校對。

基體金屬厚度：每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度，大于這個厚度測量就不受基體厚度的影響。

邊緣效應(yīng)：本儀器對試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。

曲率：試件的曲率對測量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。

表面粗糙度：基體金屬和表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測量時，在不同位置上增加測量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。

如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對儀器零點。

磁場：周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性測量厚度的工作。

附著物質(zhì)：本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

探頭的放置：探頭的放置方式對測量有影響，在測量中使探頭與試樣表面保持垂直。

試片的變形：探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。

讀數(shù)次數(shù)：通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個測量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進行測量.表面粗糙時更應(yīng)如此。

銷售區(qū)域

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