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新型寬動態(tài)納米粒度分析儀DelsaNano S

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產品簡介

DelsaNanoS新型寬動態(tài)納米粒度分析儀滿足的國際標準ISO22412:2008.美國貝克曼庫爾特公司顆粒特性分析儀器部門，不斷創(chuàng)新，于2007年10月在中國隆重推出又一高性能的納米粒度儀---DelsaNano

詳細介紹

DelsaNano S新型寬動態(tài)納米粒度分析儀滿足的國際標準ISO22412:2008. 美國貝克曼庫爾特公司顆粒特性分析儀器部門，不斷創(chuàng)新，于2007年10月在中國隆重推出又一高性能的納米粒度儀---DelsaNano。該儀器應用PCS光子相關光譜法以及FST技術，是一款新型的具有的動態(tài)測量范圍的多用途的測量儀。不但擁有的固體表面Zeta電位分析功能，同時擁有無二的可進行高濃度樣品的Zeta電位測量功能。為目前功能大的Zeta電位納米粒度分析儀。
DelsaNano S新型寬動態(tài)納米粒度分析儀最小可測量粒徑低至0.6nm。采用了高靈敏度測量技術的Delsa Nano可同時滿足高濃度樣品與極低濃度樣品的Zeta電位以及納米粒度的測量要求。濃度動態(tài)范圍達4個數(shù)量級(0.001 % ~ 40 %)。特殊樣品不再需要預先稀釋即可直接測量。儀器同時備有豐富的可選件，如高濃度樣品池、標準樣品池、一次性樣品池、微量樣品池以及PH滴定裝置等。Delsa Nano為納米技術研究的提供型的分析工具。