主要優(yōu)點(diǎn)及應(yīng)用
特殊鍍層厚度分析儀:化學(xué)鍍鎳鈀浸金、鈀、 鎳、 銠等;
汽車零部件、 線路板(PCB)鍍層厚度檢測,如:電容;
單層、 多層、合金鍍層檢測;
可同時(shí)檢測合金鍍層的厚度與成份比例;
可選用Capillary微焦點(diǎn)(35μm)檢測樣品;
可檢測多層薄膜的膜厚(多達(dá)5層);
便捷的樣品臺(tái)操控;
可多點(diǎn)連續(xù)檢測;
支持在線遠(yuǎn)程控制;
項(xiàng)目 Item | 規(guī)格 Details |
X射線管 X-ray generator | 鉬/銠/ 鎢/ 銀 (可選),50kV,1mA Mo / Rh / W / Ag Target (Option), 50kV, 1mA |
探測器 Detector | SDD(硅漂移探測器) SDD (Silicon Drift Detector) |
分辨率 Resolution limit | 125±5eV 125eV (Mn Kα) |
X射線焦斑 X-ray coverage | 聚光纖(50~100μm) Poly capillary optics (50 ~ 100μm) 0.035mm(可調(diào)) 0.035mm(adjustable) |
測量范圍 Measuring range | 鋁(13)~ 鈾(92) Al (13) ~ U (92) |
樣本類型 Sample type | 固體/液體/粉末,多層 Solid / Liquid / Powder, Multi-Layer |
樣品室尺寸 Size of sample chamber | 390×410×100mm(寬×深×高) 390 × 410 × 100 mm(W × D × H) |
主要特征 Key features | - 自動(dòng)/手動(dòng)平臺(tái) - 常規(guī)鍍層厚度檢測,銠,鈀,金,銀,錫,鎳- 可測多層薄膜的鍍層厚度(多達(dá)5層) - Auto / Manual Stage Mode - Plating thickness measurement general, Rh, Pd, Au, Ag, Sn, Ni - Film thickness measurement of multilayer thin films (up to 5Layer). |
攝像頭 Camera properties | 40~80倍 40 ~ 80 X |
安全性 safety | 3點(diǎn)聯(lián)鎖 3point interlock |
報(bào)告類型 Type of report | Excel,PDF/輸出自定義表單 Excel, PDF / output Custom form |
測試結(jié)果界面(一):
測試結(jié)果界面(二):