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SPM-8000FM 高分辨率掃描型探針顯微鏡

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱島津企業(yè)管理（中國）有限公司
品牌
型號
所在地北京市
廠商性質(zhì)其他
更新時間2024/10/21 17:39:31
訪問次數(shù)72

產(chǎn)品標(biāo)簽:

光電直讀光譜儀 SPM-8000FM 高分辨率掃描型探針顯微鏡元素分析儀

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SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡島津能夠提供鋼鐵、有色金屬、環(huán)境、食品、化工、制藥、半導(dǎo)體、陶瓷及高分子等眾多領(lǐng)域客戶,多種樣品分析所需要的種類繁多的分析儀器。電子探針（EPMA）分析對象從幾厘米到幾微米；X射線光電子能譜儀（XPS）分析對象從幾毫米到幾微米；掃描探針顯微鏡（SPM）觀察范圍從100微米到幾納米。

SPM-8000FM 高分辨率掃描型探針顯微鏡產(chǎn)品信息

SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡

HR-SPM
觀察生動的納米世界

HR-SPM是采用頻率檢測方式（Frequency Modulation）的新一代掃描探針顯微鏡。不僅可在大氣·液體環(huán)境中實現(xiàn)超高分辨率的觀察，還*實現(xiàn)了固液界面的水化作用層（hydration）·溶劑化作用層（solvation）的觀察。
HR-SPM：High Resolution Scanning Probe Microscope

SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡HR-SPM的特點

●采用FM(頻率調(diào)制)方式
●大氣·液體環(huán)境中的噪聲減少到以往的1/20
●在大氣·液體環(huán)境中實現(xiàn)真空型SPM的性能水平！

以往的SPM（掃描型探針顯微鏡）/AFM（原子力顯微鏡）是AM（振幅調(diào)制）方式，而FM（頻率調(diào)制）方式從原理上就因為高靈敏度檢測從而可實現(xiàn)更高的分辨率。

SPM：Scanning Probe Microseope
AFM：Atomic Force Microscope
AM：Amplitude Modulation
FM：Frequency Modulation

和以往SPM/AFM相比的不同

液體中原子分辨率觀察

圖為在飽和溶液中觀察NaCl表面的原子排列。以往AFM（AM方式：左）湮沒在噪聲中的原子通過FM方式（右）則可以清晰地觀察到。
FM方式可以得到真正的原子分辨率（True Atomic Resolution）。

大氣中Pt催化粒子的KPFM觀察

TiO2基板上的Pt催化粒子被識別了出來，并通過KPFM進(jìn)行表面電勢的測定?？梢杂^察到數(shù)nm大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中，紅色○區(qū)域是正電勢，藍(lán)色□區(qū)域是負(fù)電勢?？梢妼τ贙PFM觀察，分辨率也得到了大幅的提高。

＊KPFM（Keivin Probe Force Microscope）功能為特殊定制。

<引用文獻(xiàn)>

1)	Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2 Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2 Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).