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微區(qū)掃描電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)

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公司名稱阿美特克商貿(mào)（上海）有限公司科學(xué)儀器部普林斯頓及輸力強(qiáng)電化學(xué)
品牌
型號(hào)VersaSCAN
所在地國(guó)外
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024/9/11 7:23:07
訪問次數(shù)121

產(chǎn)品標(biāo)簽:

掃描電化學(xué)工作站電化學(xué)顯微鏡微區(qū)電化學(xué)測(cè)試掃描探針

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

美國(guó)阿美特克集團(tuán)公司主營(yíng)產(chǎn)品：電化學(xué)工作站,多通道電化學(xué)工作站,進(jìn)口電化學(xué)工作站,微區(qū)掃描電化學(xué),電化學(xué)顯微鏡等電化學(xué)產(chǎn)品，是電子儀器和電子機(jī)械設(shè)備的制造商，年銷售額超過50億美元，員工超過14,000人，分布在美國(guó)及的120多個(gè)工廠，80多家銷售和服務(wù)中心。Advanced Measurement Technology Inc.是美國(guó)阿美特克(Ametek)集團(tuán)的子公司，旗下?lián)碛?/span>PrincetonApplied Research(普林斯頓應(yīng)用研究)，SolartronAnalytical（輸力強(qiáng)分析），Signal Recovery等四個(gè)品牌。

普林斯頓應(yīng)用研究（PAR，Princeton Applied Research）是一個(gè)歷史悠久的電化學(xué)儀器品牌。它創(chuàng)建于1961年，由世界的普林斯頓大學(xué)和等離子物理實(shí)驗(yàn)室的一群科學(xué)家和商業(yè)人士聯(lián)合組建，50多年來(lái)，在業(yè)內(nèi)擁有*的品牌度。自1979年以EG&G旗下品牌進(jìn)入中國(guó)以來(lái)，用戶已經(jīng)超過千人，專心傾注于電化學(xué)分析與合成、電催化、腐蝕應(yīng)用與研究、化學(xué)電源、生物醫(yī)藥和傳感器、材料研究等領(lǐng)域，提供好的的研究型宏觀和微觀電化學(xué)測(cè)試儀器。

輸力強(qiáng)分析SolartronAnalytical 是阿美特克集團(tuán)公司旗下另一個(gè)好的品牌。具有60多年設(shè)計(jì)和生產(chǎn)精密電子儀器的歷史，是電化學(xué)及材料交流阻抗譜儀的專業(yè)生產(chǎn)廠商，已成為*準(zhǔn)確性和可靠性的電化學(xué)和材料測(cè)試分析儀器市場(chǎng)的*。業(yè)內(nèi)久負(fù)盛譽(yù)的產(chǎn)品有：頻率響應(yīng)分析儀，電池研究測(cè)試系統(tǒng)，材料阻抗測(cè)試儀。應(yīng)用于物理與化學(xué)電源、超級(jí)電容器、電化學(xué)傳感器、腐蝕與防護(hù)、電分析、電催化、電解電鍍電合成等領(lǐng)域；在研究和檢測(cè)材料（包括生物材料）的儲(chǔ)存電荷（電容）和傳遞電荷（電導(dǎo)）等阻抗特性測(cè)試方面以其*的采樣速度及頻率分辨率、極小的測(cè)量誤差以及多種阻抗測(cè)量技術(shù)成為市場(chǎng)上的。

AMETEK Inc.北京

朝陽(yáng)區(qū)酒仙橋路10號(hào)京東方

總部大廈（B10）二層西側(cè)

AMETEK Inc.上海

上海自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)富特東

三路526號(hào)1幢二層A1區(qū)

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電化學(xué)工作站

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微區(qū)掃描電化學(xué)材料腐蝕的電化學(xué)測(cè)試方法局限于整個(gè)樣品的宏觀測(cè)試, 測(cè)試結(jié)果只反映樣品的不同局部位置的整體統(tǒng)計(jì)結(jié)果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環(huán)境的作用機(jī)理.為進(jìn)行局部表面科學(xué)研究,微區(qū)掃描系統(tǒng)提供了一個(gè)新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用

微區(qū)掃描電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

微區(qū)掃描電化學(xué)材料腐蝕的電化學(xué)測(cè)試方法局限于整個(gè)樣品的宏觀測(cè)試, 測(cè)試結(jié)果只反映樣品的不同局部位置的整體統(tǒng)計(jì)結(jié)果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環(huán)境的作用機(jī)理.為進(jìn)行局部表面科學(xué)研究,微區(qū)掃描系統(tǒng)提供了一個(gè)新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。近年來(lái)，人們一直在探索局部電化學(xué)過程的研究。*代掃描參比電極技術(shù)（SRET）能探測(cè)局部腐蝕的發(fā)生。第二代掃描振動(dòng)電極技術(shù)（SVET）采用振動(dòng)電極測(cè)量局部（電流，電位〕隨遠(yuǎn)離被測(cè)電極表面位置的變化。 SVET具有比SRET更高的靈敏度。在SVET和SVET基礎(chǔ)上，又提出了采用掃描Kelvin振動(dòng)電極（SKP）測(cè)量不同材料表面功函數(shù)。

微區(qū)掃描電化學(xué)工作原理
掃描振動(dòng)參比電極系統(tǒng)是利用振動(dòng)電極和鎖相放大器消除微區(qū)掃描中的噪聲干擾,提高測(cè)量精度. SVET系統(tǒng)具有高靈敏度,非破壞性,可進(jìn)行電化學(xué)活性測(cè)量的特點(diǎn).它可進(jìn)行線性或面掃描,研究局部腐蝕（如電蝕和應(yīng)力腐蝕的產(chǎn)生,發(fā)展等）,表面涂層及緩蝕劑的評(píng)價(jià)等方面的研究,掃描振動(dòng)探針（SVET）是在液態(tài)腐蝕環(huán)境下,進(jìn)行腐蝕研究的有力工具,它能檢測(cè)小于5uA/cm2的原位腐蝕。

SKP工作原理

SKP掃描開爾文探針系統(tǒng)為表面科學(xué)測(cè)量提供了一個(gè)新的途徑，開爾文探針是一種無(wú)接觸，無(wú)破壞性的儀器，可以用于測(cè)量導(dǎo)電的、半導(dǎo)電的，或涂覆的材料與試樣探針之間的功函差。這種技術(shù)是用一個(gè)振動(dòng)電容探針來(lái)工作的，通過調(diào)節(jié)一個(gè)外加的前級(jí)電壓可以測(cè)量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和表面狀況有直接關(guān)系的理論的完善使SKP成為一種很有價(jià)值的儀器，它能在潮濕甚至氣態(tài)環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量的能力使原先不可能的研究變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)。

SKP掃描開爾文探針系統(tǒng)的應(yīng)用：

不銹鋼和鋁等材料的點(diǎn)蝕檢測(cè)、成長(zhǎng)過程在線監(jiān)測(cè)等；
有機(jī)和金屬涂層缺陷和完整性研究；
金屬/有機(jī)涂層界面的腐蝕的機(jī)制與檢測(cè)；
有機(jī)涂層的剝離和脫落機(jī)制；
鈍化處理的不銹鋼焊接熱影響區(qū)的電位分布；
干濕循環(huán)的碳鋼和不銹鋼的陰極區(qū)和陽(yáng)極區(qū)的分布行為；
薄液層下氧還原反應(yīng)和金屬的腐蝕過程的特征；
模擬不同大氣環(huán)境的腐蝕電位在線監(jiān)測(cè)；
鋁合金等材料在大氣環(huán)境中局部腐蝕敏感性；
鋁合金的絲狀腐蝕（filiform corrosion）；
硅烷L(zhǎng)-B膜修飾金屬表面的結(jié)構(gòu)和穩(wěn)定性；
鋅-鐵偶合金屬界面區(qū)的電位分布特征；
磷化處理鋅表面的碳微粒污染檢測(cè)；
檢測(cè)微小金屬表面的應(yīng)力分布和應(yīng)力腐蝕開裂；
檢測(cè)金屬和半導(dǎo)體材料微小區(qū)域的表面清潔度，缺陷，損傷和均勻程度；
研究和評(píng)價(jià)氣相緩蝕劑性能；
電化學(xué)傳感器；

微區(qū)掃描電化學(xué)技術(shù)參數(shù)：

VersaScan采用了納米分辨率、快速精確的閉環(huán)X、Y、Z移位系統(tǒng)，
以及靈活便捷的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

微區(qū)掃描探針平臺(tái)系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)：
1. 掃描范圍（X、Y、Z）：100mm×100mm×100mm
2. 掃描驅(qū)動(dòng)分辨率：8nm
3. 位移偏碼：線性，零滯后
4. 位移：閉環(huán)定位
5. 線性位移編碼分辨率：50nm
6. 重復(fù)性：250nm
7. 抗震光學(xué)平臺(tái)采用蜂巢狀的內(nèi)部設(shè)計(jì)和硬質(zhì)鋼表面
8. 計(jì)算機(jī)通訊方式：USB接口; 儀器與儀器之間以以太網(wǎng)連接
9. 控制與分析軟件：隨機(jī)提供軟件預(yù)裝的高性能筆記本電腦。單一軟件平臺(tái)控制所有多種掃描探針技術(shù)；內(nèi)嵌3D數(shù)據(jù)旋轉(zhuǎn)視圖功能，提高圖形的展現(xiàn)力；結(jié)果可以圖像或表格形式輸出，用于導(dǎo)入至其它分析或報(bào)告軟件。

10. 大樣品池：VersaScan L池（選配件）
11. SECM電化學(xué)微池：VersaScan mL池（選配件）
12. 樣品觀察系統(tǒng)：VersaCAM，含相機(jī)、鏡頭、顯示屏（選配件）
13. 微區(qū)技術(shù)：SECM、SVET、SKP、LEIS、SDC、OSP（可選配）

軟件特性：

控制：計(jì)算機(jī)控制探針移動(dòng)、數(shù)字式/連續(xù)掃描、掃描范圍、速度、數(shù)據(jù)采集精度等；
操作：簡(jiǎn)便易用、線性解碼實(shí)時(shí)位移顯示；
測(cè)量：先掃描后數(shù)據(jù)采集、面掃單軸可高達(dá)70,000數(shù)據(jù)點(diǎn);
結(jié)果：ASCII數(shù)據(jù)文件；標(biāo)準(zhǔn)配置2D和3D彩色圖像顯示和輸出

微區(qū)掃描電化學(xué)主要特點(diǎn)：

SECM是一個(gè)精密的掃描微電極系統(tǒng)，具有*空間分辨率。它在溶液中可檢測(cè)電流或施加電流于微電極與樣品之間。SECM與EC-STM、EC-AFM具有互補(bǔ)性，EC-STM和EC-AFM是對(duì)溶液中樣品表面進(jìn)行原子級(jí)和納米級(jí)成像分析，EC-STM和EC-AFM更多地展現(xiàn)了電化學(xué)過程的表面物理圖像。而SECM則用于檢測(cè)、分析或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。SECM具有高分辨率、易操作、測(cè)試樣品更接近實(shí)際應(yīng)用情況等特點(diǎn)，適用于分析研究各種實(shí)時(shí)和原位的電化學(xué)反應(yīng)過程。EC-STM和EC-AFM強(qiáng)調(diào)的是結(jié)果，而SECM注重的是過程和結(jié)果。
SECM有很多潛在的應(yīng)用，目前主要用于電沉積和腐蝕科學(xué)中的表面反應(yīng)過程基礎(chǔ)研究、酶穩(wěn)定性研究、生物大分子的電化學(xué)反應(yīng)特性以及微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）等領(lǐng)域。

SVET-SKP系統(tǒng)工作特點(diǎn)：
1．非接觸測(cè)量，不干擾測(cè)定體系；
2. 對(duì)界面區(qū)狀態(tài)的變化敏感，如材料表面和表面膜元素分布，
應(yīng)力分布，界面區(qū)化學(xué)分布，電化學(xué)分布的變化；
3. 測(cè)定金屬、絕緣膜下金屬和半導(dǎo)體電位分布；
4. 10E-12A~10E-15A 數(shù)量級(jí)的極弱交流信號(hào)的測(cè)量，測(cè)定裝置必須具
有很高的抗*力；
5．在線（In-situ）圖示樣品微區(qū)電化學(xué)和樣品表面變化過程等；
6．一維、二維和三維圖示與分析（3D軟件為標(biāo)配）；
7．特別適用液相和大氣環(huán)境下的材料表面和界面的微區(qū)顯微分析。

SVET與SKP系統(tǒng)的結(jié)合
SRET和SVET主要測(cè)量材料在液體電解質(zhì)環(huán)境下的局部電化學(xué)反應(yīng)過程；SKP能夠測(cè)量材料在不同濕度大氣環(huán)境下，甚至其它氣體環(huán)境下的微區(qū)特性及其隨環(huán)境變化過程等?，F(xiàn)在公司將用于液體電解質(zhì)環(huán)境下的局部電化學(xué)反應(yīng)過程的SVET和用于大氣環(huán)境下的SKP技術(shù)有機(jī)的結(jié)合在一起，*地拓展了您的研究領(lǐng)域，有效地利用資源，降低了您的購(gòu)買費(fèi)用。