產(chǎn)品介紹:
密集吸收材料的吸收光譜,因?yàn)榧ち业奈蘸头颇鶢柗瓷渥兊脦缀醪豢赡堋T谶@種情況下,檢測吸收材料是適宜的方法是抑制全內(nèi)反射。這個(gè)方法是基于<減少(間于高折射率n0介質(zhì)與在入射角度超過臨界角(Θc=arcsin(n/n0))的低折射系數(shù)n的吸收介質(zhì))之間的界面輻射的反射系數(shù)>的影響. 反射系數(shù)值取決于輻射的入射角度,輻射偏振態(tài)以及樣品的折射率. 正確選擇棱鏡(特別是棱鏡的底角)可取的好的ATR光譜,抑制THz頻譜內(nèi)全內(nèi)反射的方法,可以滿足檢測物質(zhì)的吸收系數(shù)從102-104/cm。
產(chǎn)品參數(shù):
材質(zhì) | HRFZ-Si |
尺寸公差 mm | + /-0.2 |
角度公差 arc min | +/-30 |
拋光表面的表面質(zhì)量scr/dig | 80/50 |
磨光面的表面質(zhì)量 Ra | 2.5 |
表面精度, mm | ±0.01(與理想平面的偏差) |
注:如需詳細(xì)規(guī)格參數(shù)資料,或有其他要求,請聯(lián)系我們。