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牛津儀器CMI563手持式型孔表面銅測(cè)厚儀

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公司名稱安柏來科學(xué)儀器（上海）有限公司
品牌
型號(hào)CMI563
所在地上海市
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2024/4/29 18:53:12
訪問次數(shù)155

產(chǎn)品標(biāo)簽:

CMI563 手持式型孔表面銅測(cè)厚儀牛津儀器表面銅厚測(cè)量?jī)x 孔銅面銅測(cè)厚儀

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

安柏來科學(xué)儀器（上海）有限公司成立于上海，在蘇州、深圳、成都設(shè)有銷售及服務(wù)點(diǎn)。

業(yè)務(wù)涉及
儀器設(shè)備事業(yè)：科學(xué)儀器、檢測(cè)工具、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備、工業(yè)自動(dòng)化；
材料事業(yè)：工業(yè)材料、實(shí)驗(yàn)室耗材
實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)線集成事業(yè)：QA/QC實(shí)驗(yàn)室整體方案、電鍍代加工、電鍍廢水中貴金屬回收再利用。

有能力為客戶提供：售前應(yīng)用評(píng)估及測(cè)試、售后技術(shù)支持、設(shè)備維護(hù)保養(yǎng)及校驗(yàn)、標(biāo)準(zhǔn)樣品及零部件供應(yīng)、標(biāo)準(zhǔn)樣品再認(rèn)證（ISO17025）、備用設(shè)備租賃。

產(chǎn)品包括但不局限于：X射線熒光（XRF）、電子顯微鏡、能譜儀、白光干涉膜厚測(cè)量、磁感應(yīng)及渦流、超聲、原子吸收（AAS）、原子力顯微鏡（AFM）、實(shí)驗(yàn)室模擬系統(tǒng)、三座標(biāo)、二次元、自動(dòng)色差測(cè)量平臺(tái)……滿足客戶的QA/QC及R&D測(cè)試需求。

代理的品牌來自德國(guó)、英國(guó)、美國(guó)、日本，包括：Applied Spectroscopy、Amtec、Bruker、ColorPartner、Hydac、Oxford、K Alpha、SII 等……

不斷完善的產(chǎn)品解決方案、專業(yè)的技術(shù)眼光、高效率的運(yùn)營(yíng)、客戶為先的理念，我們追求與客戶*穩(wěn)定的配合、致力于成為客戶的技術(shù)采購(gòu)合作伙伴。

展開顯示更多內(nèi)容

非接觸式3D輪廓儀，白光干涉膜厚儀，XRF鍍層測(cè)厚儀，表面銅厚和孔內(nèi)銅厚測(cè)量?jī)x，手持式XRF光譜儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

牛津儀器CMI563表面銅厚測(cè)量?jī)x專為測(cè)量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設(shè)計(jì)。

牛津儀器CMI563手持式型孔表面銅測(cè)厚儀產(chǎn)品信息

CMI563
表面銅厚測(cè)量?jī)x
CMI563采用微電阻測(cè)試技術(shù)，提供了精確測(cè)試表面銅銅厚（包括覆銅板、化學(xué)銅和電鍍銅板）的方法。
由于采用了目前市場(chǎng)上zui為*的測(cè)試技術(shù)，無論絕緣板層多厚，印刷電路板背面銅層不會(huì)對(duì)精確可信的
測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。
創(chuàng)新性的CMI563銅箔測(cè)厚儀配置探針可由用戶自行更換的SRP-4探頭。相對(duì)于整個(gè)探頭的更換，更換探針更為方便和經(jīng)濟(jì)。CMI563可由用戶選擇所測(cè)試的銅箔類型，即化學(xué)銅或電鍍銅；甚至無需用戶校準(zhǔn)，即可測(cè)量線形銅箔度。NIST（美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)學(xué)會(huì)）認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片有不同厚度可供選擇。高品質(zhì)的CMI563更可享受優(yōu)質(zhì)的保修期服務(wù)和牛津儀器客戶服務(wù)體系的全力支持。

牛津儀器CMI563表面銅厚測(cè)量?jī)x專為測(cè)量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設(shè)計(jì)。

整套儀器由一臺(tái)多功能手持式測(cè)厚儀（配有保護(hù)套）、測(cè)量探頭和NIST（美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)學(xué)會(huì)）認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片組成。采用微電阻技術(shù)的SRP-4探頭是牛津儀器公司的產(chǎn)品，耗損的探針能在現(xiàn)場(chǎng)迅速、簡(jiǎn)便地更換，將停機(jī)時(shí)間縮至zui短。更換探針模塊遠(yuǎn)比更換整個(gè)探頭經(jīng)濟(jì)。