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納米傅里葉紅外光譜儀

參考價	￥300000-￥800000/套

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱上海捷鈦儀器設(shè)備有限公司
品牌其他品牌
型號
所在地上海市
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時間2024/4/29 16:27:03
訪問次數(shù)164

產(chǎn)品標(biāo)簽:

納米傅里葉紅外光譜儀紅外光譜儀納米傅里葉

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公司介紹主營產(chǎn)品

KTIMES TECHNOLOGY LTD,.

KTIMES 成立于2011年，捷鈦儀器成立于2015年，

ISO14001認(rèn)證（中\(zhòng)英文雙證），ISO45001認(rèn)證（中\(zhòng)英文雙證），歐洲（意大利）CE雙指令質(zhì)量認(rèn)證

服務(wù)點包含：成都，長春，廣州，安慶，上海金山，上海奉賢（滬南服務(wù)中心）

從事化學(xué)分析，生命科學(xué)，生物制藥，化學(xué)制藥，材料物理等領(lǐng)域?qū)I(yè)設(shè)備的銷售、制造。

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產(chǎn)地	國產(chǎn)

納米傅里葉紅外光譜儀

在不使用任何模型矯正的條件下，nano-FTIR獲得的近場吸收光譜所體現(xiàn)的分子指紋特征與使用傳統(tǒng)FTIR光譜儀獲得的分子指紋特征吻合度*（如下圖），這在基礎(chǔ)研究和實際應(yīng)用方面都具有重要意義，因為研究者可以將nano-FTIR光譜與已經(jīng)廣泛建立的傳統(tǒng)FTIR光譜數(shù)據(jù)庫中的數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，從而實現(xiàn)快速準(zhǔn)確的進(jìn)行納米尺度下的材料化學(xué)分析。對化學(xué)成分的高敏感度與***的空間分辨率

納米傅里葉紅外光譜儀產(chǎn)品信息

應(yīng)用案例：

對納米尺度污染物的化學(xué)鑒定

AFM表面形貌圖像 (左), 在Si片基體（暗色區(qū)域Ｂ）與PMMA薄膜（Ａ）之間可以觀察到一個小的污染物。機(jī)械相位圖像中（中），對比度變化證明該污染物的是有別于基體和薄膜的其他物質(zhì)。將點Ａ和Ｂ的nano-FTIR 吸收光譜（右），與標(biāo)準(zhǔn)紅外光譜數(shù)據(jù)庫對比，獲得各部分物質(zhì)的化學(xué)成分信息. 每條譜線的采集時間為7min

nano-FTIR 可以應(yīng)用到對納米尺度樣品污染物的化學(xué)鑒定上。下圖顯示的Si表面覆蓋PMMA薄膜的橫截面AFM成像圖，其中AFM相位圖顯示在Si片和PMMA薄膜的界面存在一個100nm尺寸的污染物，但是其化學(xué)成分無法從該圖像中判斷。而使用nano-FTIR在污染物中心獲得的紅外光譜清晰的揭示出了污染物的化學(xué)成分。通過對nano-FTIR獲得的吸收譜線與標(biāo)準(zhǔn)FTIR數(shù)據(jù)庫中譜線進(jìn)行比對，可以確定污染物為PDMS顆粒。

技術(shù)參數(shù)配置：

■ 反射式 AFM-針尖照明
■ 標(biāo)準(zhǔn)光譜分辨率: 6.4/cm-1
■ 無背景探測技術(shù)
■ 基于優(yōu)化的傅里葉變換光譜儀
■ 采集速率： Up to 3 spectra /s

■ 高性能近場光譜顯微優(yōu)化的探測模塊
■ 可升級光譜分辨率：3.2/cm^-1
■ 適合探測區(qū)間：可見，紅外(0.5 – 20 nm)
■ 包括可更換分束器基座
■ 適用于同步輻射紅外光源 NEW!!!

關(guān)鍵詞：光譜儀