激光粒度儀KLT
技術特點
●的半導體制冷恒溫激光器做光源，波長短、體積小、工作穩(wěn)定、壽命長。
●設計大直徑光靶，保證測量范圍大，全測量范圍內不需要更換鏡頭或移動樣品池。
●反演算法，集多年研究之成果，米氏理論的*應用，保證顆粒測量的準確。
●USB接口，儀器與計算機分離，可配任意具有USB接口之計算機；臺式、筆記本、移動PC均可。
●測量時循環(huán)樣品池或固定樣品池可選，兩者可根據(jù)需要換用。
●循環(huán)系統(tǒng)與儀器一體化，樣品池內置超聲分散裝置，可有效分散團聚顆粒。
●樣品測量可自動化，除添加樣品外，同時也提供手動測量菜單。
●軟件個性化，提供測量向導等眾多功能，方便用戶操作。
●測量結果輸出數(shù)據(jù)豐富，保存在數(shù)據(jù)庫中，能用任意參數(shù)，如操作者姓名，樣品名，日期，時間等進行調用分析，與其他軟件實現(xiàn)數(shù)據(jù)共享。
●儀器造型美觀，體檢小重量輕。
●測量精度高，重復性好，測量時間短。
●軟件提供眾多物質折射率供用戶選擇，滿足用戶查找被測顆粒折射率要求。
●考慮到測試結果的保密要求，只有操作者才能進入相應數(shù)據(jù)庫讀取數(shù)據(jù)和處理。
激光粒度儀KLT
技術參數(shù)
型號 KLT-11 KLT-21 KLT-31
測量原理 Mie散射理論
測量范圍 0.1-200um 0.1-400um 0.1-600um
測量分析時間 正常條件下小于1分鐘（從開始測量到顯示分析結果）。
重現(xiàn)性 ﹤1%（標樣D50偏差）
測量精度 ﹤1%（標樣D50偏差）（國家標準顆粒檢驗）
數(shù)據(jù)輸出 體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表；多種統(tǒng)計平均直徑；
操作者姓名、單位、樣品名； 選用折射率，測量時間等相關信息。
光源 半導體制冷恒溫激光光源，波長635nm
檢測器 定制硅光電二極管
通訊接口 USB接口
樣品池 固定樣品池和循環(huán)樣品池
電源 AC 180V-240V，50Hz，20W
外形尺寸 650*350*420
重量 30kg
KLT
