X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測樣品,產(chǎn)生X熒光(二次X射線),探測器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測。
X射線熒光分析儀原理及特點(diǎn):
熒光,顧名思義就是在光的照射下發(fā)出的光。
從原子物理學(xué)的知識(shí)我們知道,對(duì)每一種化學(xué)元素的原子來說,都有其特定的能級(jí)結(jié)構(gòu),其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行,內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子核的束縛,成為自由電子,我們說原子被激發(fā)了,處于激發(fā)態(tài),這時(shí),其他的外層電子便會(huì)這一空位,也就是所謂躍遷,同時(shí)以發(fā)出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級(jí)結(jié)構(gòu)都是特定的,它被激發(fā)后躍遷時(shí)放出的X射線的能量也是特定的,稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量,便可以確定相應(yīng)元素的存在,而特征X射線的強(qiáng)弱(或者說X射線光子的多少)則代表該元素的含量。
量子力學(xué)知識(shí)告訴我們,X 射線具有波粒二象性,既可以看作粒子,也可以看作電磁波??醋髁W訒r(shí)的能量和看作電磁波時(shí)的波長有著一一對(duì)應(yīng)關(guān)系。這就是的普朗克公式:E=hc/λ。顯然,無論是測定能量,還是波長,都可以實(shí)現(xiàn)對(duì)相應(yīng)元素的分析,其效果是一樣的。
X熒光光譜儀分類:
X熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。
以X熒光的波粒二象性中波長特征為原理的稱為波長色散型,以能量特征為原理的稱為能量色散型。
X熒光分析儀儀器特點(diǎn):
電制冷探測器,可以快速分析從11Na到92U之間的全部元素,精度高、測量時(shí)間短,它可以廣泛用于有色礦山、鋼鐵、水泥、耐火材料、不銹鋼、合金等領(lǐng)域。
為了滿足現(xiàn)代企業(yè)管理和生產(chǎn)要求,必須對(duì)生產(chǎn)過程中的原材料的化學(xué)成分進(jìn)行及時(shí)、準(zhǔn)確的分析和控制,傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法已經(jīng)不能滿足生產(chǎn)過程的需要。目前眾多新型冶煉企業(yè)為了達(dá)到良好的質(zhì)量控制指標(biāo),大都配備了相應(yīng)的分析儀。
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