測量原理
C-Quand在線X射線熒光元素分析儀基于成熟的元素分析技術(shù)-EDXRF技術(shù)，也即能量色散X射線熒光技術(shù)。該技術(shù)測量樣品中原子產(chǎn)生的特征X射線光譜，更重要的是，這種測量方法在整個(gè)測量過程中是連續(xù)的，而不是只對(duì)起始時(shí)間進(jìn)行瞬間測量。
技術(shù)參數(shù)
| 測量原理 | X射線能量色散技術(shù) |
|---|---|
| 測量元素范圍 | 原子序數(shù)14-92 |
| 測量范圍 | 濃度等級(jí)從0.5ppm到%等級(jí) |
| 測量范圍 | 每臺(tái)儀器最多可測量15種元素 |
| 精度 | 取決于具體應(yīng)用，從ppm到%等級(jí)。穩(wěn)定性：優(yōu)于0.5% |
| 工業(yè)計(jì)算機(jī) | Windows嵌入式操作系統(tǒng)，液晶彩屏，完整的ASCII鍵盤 |
| 模擬輸出 | 獨(dú)立的4-20mA模擬輸出 |
| 通訊 | RS485 或 TCP/IP 的網(wǎng)絡(luò)通訊協(xié)議(MODBUS) |
| 環(huán)境溫度 | 5-40°C |
| X射線探頭 | 硅漂移探測器，分辨率135eV，低噪聲 |
| 高壓電源 | 0-50kV |
| 測量源 | 15W X光射線管，銀制電極 |
| 采樣窗口 | Be鈹 |
| 穩(wěn)定性 | 自動(dòng)偏移校正，自動(dòng)反向散射峰校正 |
| 樣品流速 | 0.2-0.5L/min |
| 樣品池溫度 | 可達(dá)80°C |
| 樣品池壓力 | 標(biāo)準(zhǔn)大氣壓 |
| 樣品粘度 | <100 cSt (采樣室溫度為80°C) |
| 樣品污染物 | >10微米需濾除，消除自由水 |
| 電源 | 110-230VAC， 50/60 Hz |
| 功耗 | 100VA |
| 儀表風(fēng) | 對(duì)于Exp型版本以及標(biāo)配氣動(dòng)閥（可選電動(dòng)閥）需要<2L/min的儀表風(fēng) |
產(chǎn)品特點(diǎn)
1 使用EDXRF技術(shù)，C-Quand可測量從硅（原子數(shù)14）到鈾（原子數(shù)92）之間的任何元素，濃度范圍從ppm到%，測量的濃度范圍和精度根據(jù)具體應(yīng)用而定。
- 2 長期測量的穩(wěn)定性，通過內(nèi)標(biāo)消除檢測器和電子漂移
- 3 直接測量，無需高溫轉(zhuǎn)換
- 4 樣品池和第二個(gè)保護(hù)窗保護(hù)檢測器免受樣品污染
- 5 配置檢漏儀，如果遇到檢測窗破裂，可切斷安全閥門
- 6 檢測源是一個(gè)X射線管，意味著切換電源時(shí)，將停止輻射
- 7 可選加熱測量池，可將粘度高達(dá)100cSt的高粘度樣品加熱至80℃
- 8 寬測量范圍，從ppm到%水平均可保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確性
- 9 測量過程不受樣品密度和C/H比變化的影響
- 10 配合高敏感度、低噪聲的硅漂移探測器
- 11 連續(xù)無損測量，保證工藝不受干擾
- 12 日常維護(hù)簡單，定期清理測量池即可，測量池可拆卸，方便清潔
- 13 可選擇的信號(hào)輸出模式，4-20mA信號(hào)，MODBUS TCP/IP或RS485
- 14 每臺(tái)儀器多可測15種元素，測量的兼容性好
- 15 自動(dòng)校正漂移，確保測量準(zhǔn)確性
應(yīng)用領(lǐng)域
XRF法是分析石油產(chǎn)品種總硫含量合適的方法，相比通過流動(dòng)注射或轉(zhuǎn)化法測二氧化硫和硫化氫得到硫含量的技術(shù)方法相比，當(dāng)檢測樣品的沸點(diǎn)超過450℃時(shí)，不再適合總硫分析，應(yīng)用行業(yè)包括：
- 石油精煉工業(yè)： 燃油和原油中總硫的測定、煉油催化劑中雜質(zhì)和微量金屬測定
- 化學(xué)工業(yè)： 石化工藝中催化劑的測定
- 電鍍工業(yè)： 測定電鍍槽中的金屬元素
- 污水處理： 測定污水中的痕量金屬元素
- 地質(zhì)學(xué)： 稀土中元素分析、玉石元素成分分析
