半導體冷熱沖擊試驗箱TS溫度沖擊試驗箱
宏展很多客戶里有做電子電路板試驗的,我們的高低溫沖擊試驗箱得到了客戶的高度認可,我們?yōu)榭蛻籼峁┝烁哔|(zhì)量的設備,價格低。服務態(tài)度是當天到客戶處。
產(chǎn)品簡介: 高低溫沖擊試驗箱根據(jù)試品使用的特殊性,分為兩箱式動態(tài)沖擊和一箱式靜態(tài)沖擊,本系列試驗箱既可作冷熱沖擊試驗,也可作單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛用于航空、航天單位、電子、IT行業(yè)等模擬試品在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等,同時可通過此試驗,進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
半導體冷熱沖擊試驗箱溫度沖擊試驗箱
*設備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;
設備還可提供標準高低溫試驗功能,實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;
高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性;
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強,使用壽命長;
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小;
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命;
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性;
多種可選功能(測試孔、記錄儀、測試電纜等)保證了用戶多種功能和測試的需要;
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求;
TS系列冷熱沖擊試驗箱設備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;設備還可提供標準高低溫試驗功能,實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性;
半導體冷熱沖擊試驗箱TS溫度沖擊試驗箱
特點:
1、兩箱式:高低溫室轉(zhuǎn)換采用氣動控制,轉(zhuǎn)換時間短,溫度恢復時間短,溫變速度快,結構緊湊,體積小。
2、一箱式:測試樣品一直處于靜態(tài),其溫度的轉(zhuǎn)換通過氣動系統(tǒng)打開(關閉)不同風門來實現(xiàn),便于進行在線測試,減少對測試樣品的機械沖擊。
基本配置:
采用LCD液晶觸摸屏,工業(yè)級人機界面和高性能PLC,防水,耐振動,系統(tǒng)全自動智能化控制,有效解決了操作人員學習培訓難的問題,當設備出現(xiàn)故障時,液晶界面會有相應故障提示,方便維修。制冷壓縮機及關鍵配件均選用進口,運行長久可靠;環(huán)保冷媒制冷,符合環(huán)保公約要求。多種選配件:RS232/485通訊接口、記錄打印儀、遠程溫度控制系統(tǒng)(含打印機、通訊軟件、電腦等)。
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TSL-80A TSU-80-W TSS-80-W | TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W | TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W | TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W | |||||
標稱內(nèi)容積(升) | 80 | 150 | 200 | 300 | ||||
試驗方式 | 氣動風門切換2溫室或3溫室方式 | |||||||
性能 | 高溫室 | 預熱溫度范圍 | +60~+200℃ | |||||
升溫速率※1 | +60→+200℃≤20分鐘 | |||||||
低溫室 | 預冷溫度范圍 | -78-0℃ | ||||||
降溫速率※1 | +20→-75℃≤80分鐘 | |||||||
試驗室 | 溫度偏差 | ±2℃ | ||||||
溫度范圍 | TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃; TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃; TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃ | |||||||
溫度恢復時間※2 | 5分鐘以內(nèi) | |||||||
試樣擱架承載能力 | 30kg | |||||||
試樣重量 | 7.5kg | 7.5kg | 10kg | 10kg | ||||
內(nèi)部尺寸(mm) | W | 500 | 600 | 750 | 850 | |||
H | 400 | 500 | 500 | 600 | ||||
D | 400 | 500 | 600 | 800 | ||||
外形尺寸(mm)※4 | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 | |||
H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 | ||||
D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 | ||||
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。 | ||||||||
※2恢復條件:室溫為+25℃和循環(huán)水溫為+25℃,試樣是塑料封裝集成電路。(均布) |
特點
1、分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分,測試樣品放置測試區(qū)靜止,采用之蓄熱、蓄冷結構,強制冷熱風路切換方式導入測試區(qū),完成冷熱溫度沖擊測試;既可作冷熱沖擊試驗箱使用又可以作單獨的高溫箱或單獨的低溫箱使用;
2、可由測試孔外加負載配線測試部件;
3、大型彩色LCD觸控對話式微電腦控制系統(tǒng),操作簡單易懂,運行狀態(tài)一目了然;
4、全封閉進口壓縮機+環(huán)保冷媒,板式冷熱交換器與二元式超低溫冷凍系統(tǒng);
5、具有RS-232或RS-485通訊接口,可連接電腦遠程操控,使用便捷;
6、可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,執(zhí)行冷熱沖擊條件時,可選擇2槽或3槽之功能,并具有高低溫試驗機的功能;
7、可在預約開機時間運轉(zhuǎn)中自動提前預冷、預熱、待機功能;
8、可設定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù),自動(手動)除霜;
9、采用日本Q8-900控制器人機界面友好,程序設定方便,異常及故障排除顯示功能齊全。
溫度沖擊試驗箱;冷熱沖擊試驗箱;高低溫沖擊試驗箱主要用于確定電工電子產(chǎn)品在貯存、運輸和使用期間可能遇到的溫度迅速變化的條件下的適應性。
溫度沖擊試驗箱;冷熱沖擊試驗箱;高低溫沖擊試驗箱詳細資料
用途:
溫度沖擊試驗箱;冷熱沖擊試驗箱;高低溫沖擊試驗箱適用于電子、電工產(chǎn)品和其他設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗,也是篩選電子元器件初期故障的助手。
執(zhí)行與滿足標準
1、GB/T2423.1-2008低溫試驗方法;
2、GB/T2423.2-2008高溫試驗方法;
3、GB/T2423.22-2008溫度變化試驗;
4、GJB150.5-2008溫度沖擊試驗;
5、GJB360.7-2008溫度沖擊試驗;
6、GJB367.2-2008 405溫度沖擊試驗。
半導體冷熱沖擊試驗箱溫度沖擊試驗箱特點
溫度沖擊試驗箱;冷熱沖擊試驗箱;高低溫沖擊試驗箱分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分,測試樣品放置測試區(qū)靜止,采用 之蓄熱、蓄冷結構,強制冷熱風路切換方式導入測試區(qū),完成冷熱溫度沖擊測試;
可由測試孔外加負載配線測試部件;
大型彩色LCD觸控對話式微電腦控制系統(tǒng),操作簡單易懂,運行狀態(tài)一目了然;
全封閉進口壓縮機+環(huán)保冷媒,板式冷熱交換器與二元式超低溫冷凍系統(tǒng);
具有RS-232或RS-485通訊接口,可連接電腦遠程操控,使用便捷;
可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,執(zhí)行冷熱沖擊條件時,可選擇2槽或3 槽之功能,并具有高低溫試驗機的功能;
可在預約開機時間運轉(zhuǎn)中自動提前預冷、預熱、待機功能;
可設定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù),自動(手動)除霜;
控制器人機界面友好,程序設定方便,異常及故障排除顯示功能齊全。
1;內(nèi)容積:工作室尺寸(mm) 400×400×500 500×500×600 500×550×700(可以根據(jù)需要定制)
2;試驗方法:氣動風門切換2溫室或3溫室方式
3;性能:
3.1高溫室:預熱溫度范圍,+5℃~+200℃;升溫速率,+5℃~+200℃約20分鐘
3.2低溫室:預冷溫度范圍,0℃~-65℃; 降溫時間,0℃~-65℃約65分鐘
3.3試驗室: 溫度均勻度± 2℃,溫度范圍-70℃~+200℃,溫度恢復時間≤5分鐘
3.4樣品架承重能力30KG
3.5試品重量(kg) ≤10KG
4;材料
4.1內(nèi)膽SUS304鏡面不銹鋼板
4.2外殼SUS304拉絲不銹鋼板或A3板噴塑
4.3隔熱聚氨酯發(fā)泡和玻璃纖維
5:溫度沖擊試驗箱;冷熱沖擊試驗箱;高低溫沖擊試驗箱結構
5.1高溫室加熱器為鎳鉻合金加熱器,采用離心風機。
5.2低溫室加熱器、冷卻器為鎳鉻合金加熱器、翅片式冷卻器、蓄冷器和采用離心風機,
5.3制冷機組