晶體老化是因為在生產(chǎn)晶體的時候存在應(yīng)力、污染物、殘留氣體、結(jié)構(gòu)工藝缺陷等問題。應(yīng)力要經(jīng)過一段時間的變化才能穩(wěn)定，一種叫“應(yīng)力補(bǔ)償”的晶體切割方法（SC 切割法）使晶體有較好的特性。
短穩(wěn)：短期穩(wěn)定度，觀察的時間為1 毫秒、10 毫秒、100 毫秒、1 秒、10 秒。晶振的輸出頻率受到內(nèi)部電路的影響(晶體的Q 值、元器件的噪音、電路的穩(wěn)定性、工作狀態(tài)等)而產(chǎn)生頻譜很寬的不穩(wěn)定。測量一連串的頻率值后，用阿倫方程計算。相位噪音也同樣可以反映短穩(wěn)的情況(要有儀器測量)。
重現(xiàn)性：定義：晶振經(jīng)長時間工作穩(wěn)定后關(guān)機(jī)，停機(jī)一段時間t1(如24 小時)，開機(jī)一段時間t2(如4 小時)，測得頻率f1，再停機(jī)同一段時間t1，再開機(jī)同一段時間t2，測得頻率f2。重現(xiàn)性=(f2-f1)/f2。
頻率壓控范圍：將頻率控制電壓從基準(zhǔn)電壓調(diào)到規(guī)定的終點電壓，石英晶體振蕩器頻率的小峰值改變量。
頻率壓控線性：和理想（直線）函數(shù)相比的輸出頻率-輸入控制電壓傳輸特性的一種量度，它以百分?jǐn)?shù)表示整個范圍頻偏的可容許非線性度。
晶振質(zhì)量的好壞由什么決定了?有人會說從外觀的嶄新程度分辨，或者是外包裝，又或者產(chǎn)品印字標(biāo)識。這一切真的能有助于我們分辨晶振的好壞嗎?廣瑞泰知道像晶振這樣的電子元器件拿在手上我們是無法判斷其好壞程度的，通常晶振人所指的壞即是在電路工作中晶振不起振，或者時而穩(wěn)定時而不穩(wěn)定的現(xiàn)象!那么這一切現(xiàn)象終究是歸根于質(zhì)量問題還是晶振參數(shù)?
Cspan40 晶振不起振的現(xiàn)象及解決方法
現(xiàn)象：
連接電腦后，能夠發(fā)現(xiàn)設(shè)備。(Cspan40，COM)，但是打了個嘆號。提示“由于 Windows 無法加載這個設(shè)備所需的驅(qū)動程序，導(dǎo)致這個設(shè)備工作異常。(代碼 31)”
用示波器觀察，發(fā)現(xiàn)晶體沒有起振。
排查過程：
1、先更換晶體;不行
2、然后對照數(shù)據(jù)手冊檢查原理圖，發(fā)現(xiàn) V3 引腳應(yīng)該接 0.01uF 電容，而我用了 0.1uF，換，發(fā)現(xiàn)還是不行。
3、更換芯片，不行。
4、更換 USB 線，不行。
5、后來在 BBS 上也有晶體不起振的情況，具體是上電瞬間晶體起振，稍后即為高電平。
用示波器測發(fā)現(xiàn)我的也是。但是他那個是因為信號線 D D- 沒有加屏蔽導(dǎo)致。雖然沒解決問題，但既有啟示也有進(jìn)展。
此外還得到另外一個信息，如果 Cspan40 和電腦通信異常，那么芯片會進(jìn)入睡眠狀態(tài)，此時晶體是不起振的。也就是說晶體不起振未必是設(shè)備硬件的問題。還和上位機(jī)有關(guān)。
這里將為大家介紹晶振不起振的原因以及解決方案，其次將闡述 Cspan40 晶振不起振的應(yīng)對措施以供大家參考。如果你對本文即將討論的問題存在一定興趣，不妨繼續(xù)往下閱讀哦。
遇到單片機(jī)晶振不起振是常見現(xiàn)象，那么引起晶振不起振的原因有哪些呢?讓我們一起來看看吧。
一、晶振不起振的原因
(1)PCB 板布線錯誤;
(2)單片機(jī)質(zhì)量有問題;
(3)晶振質(zhì)量有問題;
(4)負(fù)載電容或匹配電容與晶振不匹配或者電容質(zhì)量有問題;
(5)PCB 板受潮，導(dǎo)致阻抗失配而不能起振;
(6)晶振電路的走線過長;
(7)晶振兩腳之間有走線;
(8)電路的影響。
二、解決方案
(1)排除電路錯誤的可能性，因此你可以用相應(yīng)型號單片機(jī)的推薦電路進(jìn)行比較。
(2)排除元件不良的可能性，因為零件無非為電阻，電容，你很容易鑒別是否為良品。
(3)排除晶振為停振品的可能性，因為你不會只試了一二個晶振。
(4)試著改換晶體兩端的電容，也許晶振就能起振了，電容的大小請參考晶振的使用說明。
(5)在 PCB 布線時晶振電路的走線應(yīng)盡量短且盡可能靠近 IC，杜絕在晶振兩腳間走線。
