能量色散X射線熒光光譜儀儀器簡介：

隨著經濟的快速一體化,各種行業(yè)標準或商業(yè)標準應運而生,尤其是環(huán)境保護方面，中國的第十一個五年計劃加大了對環(huán)境保護方面的投入，一系列相關的環(huán)境標準對土壤、空氣及水等介質中痕量重金屬的分析要求越來越高,而傳統(tǒng)的分析方法（如原子吸收等）由于樣品制備復雜、某些元素的檢出限達不到標準要求而導致分析速度和結果已遠遠不能滿足環(huán)保行業(yè)的要求。為了滿足對這類分析要求的需要,專業(yè)級X射線生產制造商—帕納科公司zui近向市場推出了用于環(huán)境分析的*能量色散X射線熒光光譜儀—Epsilon 5.該儀器采用了一系列的、帕納科光管功率可達600W,X光管zui高管壓可達100KV。）使其成為目前世界上zui*的。 該儀器有兩大特點：制樣簡單，可以直接對固體、液體、粉末等進行分析，與傳統(tǒng)的ICP、AAS分析方法相比，無須對樣品進行前處理，大大提高了分析速度；重金屬元素的檢出限可以降低到亞ppm級,使其滿足的任何標準都沒有問題(如EPA IO-3.3、Weee & RoHS、ELV EN71等),并且將來標準進一步提高,也無需增加任何投資即可滿足，一次投資,一步到位。

技術參數(shù)：

分析元素范圍：Na（11）－U（92）
激發(fā)電壓：zui大100kV
X光管功率：600W
二次靶: zui多可安裝15個
探測器: 超大面積高純Ge
分辨率: <135ev

主要特點：

·Gd靶材——采用稀土元素釓Gd為靶材，對于重元素的K系線激發(fā)效率非常高.

·600W高壓發(fā)生器——工作電壓可達100kV，可以測量重金屬的K線，從而使重金屬的靈敏度大大提高。(傳統(tǒng)的能譜儀和現(xiàn)有的波長色散型都只能測量重金屬的L線,而K線的強度要比L線的強度高一個數(shù)量級)

三維偏振技術——利用三維偏振激發(fā)源，X射線管、偏振靶或二次靶與試樣的幾何布局是三維，使用偏振光或二次靶激發(fā)樣品，提高了激發(fā)效率并大大降低了原級譜背景，從而降低了譜儀檢出限。

·二次靶技術——根據(jù)待測元素及試樣的組成，選擇的二次靶用作激發(fā)源，譜儀可提供多達15個二次靶(標準9個)。

·濾光片——進一步降低檢出限，可有多達5種供選擇。

·Ge探測器PAN-32——其超大探測面積30mm2和5mm厚度，檢測X射線能量范圍寬達0.7-100 keV，分辨率小于140eV,zui大計數(shù)達到創(chuàng)記錄200,000cps。其在原子序數(shù)20(Sc)到92(U)達到99%的轉換效率。在高能量區(qū)(17keV以上)，其分辨率優(yōu)于波長色散的晶體如LiF200的分辨率。