? 臺(tái)式設(shè)備的數(shù)據(jù),“緊湊”型價(jià)格
? 測(cè)量速度可高達(dá)30倍
? 優(yōu)異的雜散光抑制,高信噪比
? 痕量級(jí)別檢測(cè)極限
? 高溫度穩(wěn)定性和重復(fù)性
? 光纖耦合和自由空間方式
主要應(yīng)用
? SERS和標(biāo)簽檢測(cè)
? 工業(yè)過(guò)程控制
? 寶石,礦物和藝術(shù)分析
? 石墨烯和納米材料表征
? 制藥檢驗(yàn)
? 防偽認(rèn)證
? 食品與飲料
參數(shù)
分光計(jì) | OEM模型 | 光譜范圍 |
WP UV-Vis | — | 250~850nm |
WP Vis | — | 400~800nm |
WP Vis-NIR | WP Vis-NIR | 400~1080nm |
WP NIR I | WP NIR I | 900~1700nm |