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超低濕試驗(yàn)箱,除了可仿真產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲(chǔ)存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結(jié)露試驗(yàn))..等,去檢測(cè)產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變,以及針對(duì)產(chǎn)品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環(huán)境下是否會(huì)發(fā)生龜裂、破損,另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上,據(jù)統(tǒng)計(jì),半導(dǎo)體破壞率:59%是由靜電所引起的。 ※ 需符合國(guó)際性規(guī)范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以達(dá)到國(guó)際間量測(cè)程序一致性(含測(cè)試步驟、條件、方法)避免認(rèn)知不同,并縮小量測(cè)不確定的因素范圍發(fā)生。 |
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執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn).中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)分為強(qiáng)制性國(guó)標(biāo)(GB)和推薦性國(guó)標(biāo)(GB/T) 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB 10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB 10592-89高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 滿足標(biāo)準(zhǔn) 國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-03_試驗(yàn)方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱 國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-01_試驗(yàn)方法A_冷 國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-02_試驗(yàn)方法B_干熱 美用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-507.4 濕度 美用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-501.4 高溫 美用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-502.4 低溫 美用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 美用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810D方法502.2 美用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810方法507.2程序3 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-3-1987 試驗(yàn)Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài) 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-2-1995 試驗(yàn)B:干熱 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-1-1995 試驗(yàn)A:低溫 美國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗(yàn) 美國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A103-C-2004 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 美國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A119-2004 低溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.1-2001 低溫 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.2-2001 高溫 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗(yàn)方法 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T2423.4-93方法 中國(guó)國(guó)家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗(yàn) |
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