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AXIS-ULTRA DLD是實時成像XPS的產(chǎn)品 -空間分辨率小于3μm-
能夠與多種測定技術(shù)集成 AXIS-ULTRA DLD標準配備了具有多個國際標準窗口的樣品處理室,作為樣品的前處理腔,功能強大且擴展性強。能夠?qū)獦悠芳訜嶂评浼熬哂蟹磻δ艿臉悠贩磻?,多樣品停放器等許多選購件。樣品分析室可以增加UPS、FE-AES、ISS等分析方法,可以組合成復合分析裝置。
延遲線探測器(DLD)系統(tǒng) 采用了研發(fā)的延遲線探測器。既可以生成譜圖又可以生成圖像。各測定模式均可以提供正確的脈沖計數(shù)。不僅可以在描譜儀模式下,通過128個檢測通道提供高靈敏度的測定,還可以不通過分析器的能量掃描,利用快速非掃描的“快照”譜儀模式瞬間測定窄掃描譜。成像模式能夠提供256×256像素、空間分辨率小于3μm的高分辨率圖像。
平行成像和微區(qū)譜圖 采用平均半徑達165mm的大型靜電半球分析器與成像專用的球鏡分析器(Kratos)組合的合成分析器。在進行化學狀態(tài)分析、深度方向分析等的譜儀分析時,通過大型靜電半球分析器能夠提供高能量分辨率、高靈敏度的測定。多點微區(qū)測定時利用輸入透鏡內(nèi)的光電子偏轉(zhuǎn)系統(tǒng),能夠?qū)崿F(xiàn)準確的點分析。 利用球鏡分析器進行平行成像。光電子成像的空間分辨率小于3μm,能夠在譜儀測定的同時,極短時間內(nèi)得到高分辨率圖像。
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