產(chǎn)品詳細資料
本儀器可覆蓋UV-VIS-NIR全波段光譜范圍，實現(xiàn)UV-VIS-NIR波段連續(xù)掃描，其應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，可測量固體／液體樣品在紫外-可見-近紅外范圍內(nèi)的特征吸收；可研究玻璃鍍膜樣品吸收／透射或反射光譜；可研究粉末樣品在整個紫外可見近紅外區(qū)的吸收譜圖、還可測定核酸／蛋白等物質(zhì)的含量或檢測酶的活性等等，適合于半導(dǎo)體、光學(xué)元件、建筑材料、新型材料等等行業(yè)，是功能勁的光譜分析儀器。
采用經(jīng)典的Czerny-Turner光學(xué)結(jié)構(gòu)，其結(jié)構(gòu)簡單、精度高、光譜分辨率良好；
采用雙光柵、雙接收器的設(shè)計，保證了儀器工作波段可覆蓋紫外可見、近紅外區(qū)（UV-VIS-NIR）全波段的優(yōu)勢；
接收器件均為進口器件，保證了儀器的高性能和穩(wěn)定度；
儀器的控制（如光柵轉(zhuǎn)換、濾光片轉(zhuǎn)換、接收器轉(zhuǎn)換、波長掃描等）全部由計算機控制，接口為 USB2.0，儀器的連接簡單，極大的提高了通訊速率；
狹縫寬度7檔可選，分別是（0.1nm、0.2nm、0.5nm、1.0nm、2.0nm、3.0nm、5.0nm）。用戶可根據(jù)實際需要任意選擇。
全中文操作軟件，功能選擇簡單、易懂。
| 工作波長范圍 | 190-2800nm |
| 掃描方式 | 透過率、吸光度、反射率、能量 |
| 波長準(zhǔn)確度 | ±0.5nm（UV/VIS）;±8nm（NIR） |
| 波長重復(fù)性 | 0.3nm(UV/VIS)； ±4nm（NIR） |
| 采樣間隔 | 0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、1.5nm、2nm、5nm、10nm |
| 光度范圍 | 0.300～2.5A |
| 光度準(zhǔn)確度 | ±0.3%T（0-99%T） |
| 光度重復(fù)性 | 0.2%T |
| 基線平直度 | ±0.008A（200-2500nm，預(yù)熱30分鐘后） |
| 光譜帶寬 | 0.2nm-10nm |
| 雜散光 | ≤0.2%T（220nm） |
| 外形尺寸 | 830*600*260mm |
本儀器工作軟件具有豐富的測試分析功能，可進行透過率、吸光度、能量、反射率測量。具有光譜掃描、定點測量、多波長測量的功能。
紫外可見近紅外分光光度計主機、USB數(shù)據(jù)線、石英比色皿、擋零塊、應(yīng)用軟件、配套工具等
* 計算機及打印機（需另配）。
TP-720紫外可見近紅外分光光度計專用反射附件。
TP-720紫外可見近紅外分光光度計專用固體樣品測量附件。
TP-720紫外可見近紅外分光光度計專用漫反射樣品測量附件。
