差熱實(shí)驗(yàn)裝置/差熱實(shí)驗(yàn)儀 型號:DP-ZCR
本裝置采用單片機(jī)程序控溫。測量參比物和物質(zhì)在物理或化學(xué)作用下所產(chǎn)生的熱效應(yīng)(吸熱或放熱)以及相對溫度變化(DTA)。
裝置組成及特點(diǎn):
* DP-ZCR差熱實(shí)驗(yàn)儀
* 差熱實(shí)驗(yàn)爐
1、溫度范圍:室溫~1100℃
2、溫度分辨率:0.1℃
3、控溫速率:1~20℃/min
4、程序方式:微型處理器程序控制PID
5、DTA分辨率:1uV
6、DTA量程:0~2000uV(不分檔)
7、DSC方式:數(shù)據(jù)、曲線解析
8、DSC范圍:1mW~±100mW
9、DSC解析度:10uW
10、輸出方式:計算機(jī)、打印機(jī)系統(tǒng)