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薄膜測厚儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱北京美亞先科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號MP-20
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2021/8/25 18:10:57
  • 訪問次數(shù)243
產(chǎn)品標簽:

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  北京美亞先科技有限公司(Beijing Meiyaxian Technology Co. Ltd)簡稱美亞先科技,自從2009年成立之初就一直致力于將歐美和亞洲的*技術(shù)與產(chǎn)品擇優(yōu)引入中國市場,通過學習、消化、吸收的工藝技術(shù),嘗試、引進、共享這些高科技產(chǎn)品帶來的益處,并促其在廣袤的中國市場上扎根發(fā)芽、開花結(jié)果、發(fā)揚光大。為中國經(jīng)濟的騰飛發(fā)達,出一份綿薄之力。故此,融合○共享○發(fā)揚成為北京美亞先科技有限公司成長壯大深層次的文化理念?! ”本┟纴喯瓤萍加邢薰痉e極服務(wù)于科研教育、計量校準、車輛檢測、數(shù)據(jù)采集、顯微分析、工、工業(yè)控制與自動化等多個行業(yè),產(chǎn)品線包括:● 探針臺系列用于半導體特性分析與設(shè)計測試等的各式探針臺及其配套產(chǎn)品,包括探針臺臺體、探針座、探針夾具/線纜、探針及顯微鏡、真空泵、視像采集、防震桌、屏蔽箱、溫度或磁場控制裝置等,細分品類有上百種之多。適合于晶圓測試,器件失效分析/可靠性分析,材料特性分析,光電器件與平板顯示器、射頻與微波器件、生物芯片、微納器件的物理化學特性測試以及半導體設(shè)計等多個領(lǐng)域?!瘛∮嬃啃氏盗惺〉丶壔虿块T行業(yè)的計量校準/質(zhì)量檢驗院所,國內(nèi)的企業(yè)級的計量校準實驗室,從達國家標準級的產(chǎn)品到適合企業(yè)使用的常規(guī)計量儀器都有覆蓋。包括電容標準和電容電橋系列;電阻標準、精密分流器和高壓分壓器系列;用于高溫和光譜輻射標準的高溫黑體爐和LP4/LP5高溫計系列;還有十進制電阻箱/電容箱/電感箱,多功能校準器及電流、電壓、溫度、壓力等的現(xiàn)場校準儀器等?!瘛★@微分析系列除了可以提供金相顯微鏡、體視顯微鏡、ZOOM顯微鏡及視像采集CCD等配套產(chǎn)品外,還可提供包括用于三維(3D)形貌分析的激光共聚焦顯微鏡,適用于半導體晶元、微納米/MEMS器件、各種材料表面分析等領(lǐng)域;也可提供用于樣品材料化學成分分析、晶體結(jié)構(gòu)、分子間相互作用、分子取向以及形貌特征等的便攜式拉曼光譜儀,適用于石墨烯、表面增強、食品藥品安全、寶玉石鑒定、生物物理化學材料分析等領(lǐng)域?!瘛】删幊屉娫聪盗械木?、可編程電源及電子負載全系列產(chǎn)品線,廣泛應(yīng)用于多個工業(yè)領(lǐng)域的研發(fā)、自動測試設(shè)備(ATE)、過程控制、電源總線模擬及電源調(diào)節(jié)方面。包括直流臺式電源、直流機架式電源、直流模塊化電源、交流電源、交流/直流電子負載,覆蓋AMETEK、ELGAR、AMREL、Sorensen、California Instruments和Xantrex等世界?!瘛≤囕v檢測系列用于汽車(包括電動汽車)及其他車輛的檢測,包括車門關(guān)閉速度與能量測試系統(tǒng)(Door Speed)、引擎NVH檢測系統(tǒng)、馬達NVH檢測系統(tǒng)、無線引擎轉(zhuǎn)速計、CAN總線分析測試系統(tǒng)等,高性能硬件+方便易用的軟件構(gòu)成完整的解決方案?!瘛?shù)據(jù)采集與工業(yè)控制系列數(shù)據(jù)采集與工業(yè)控制簡稱數(shù)采與工控系列,包括應(yīng)力應(yīng)變量測系統(tǒng)、振動與加速度量測系統(tǒng)、多功能數(shù)據(jù)采集器(FleXense)、以及用于電動汽車、自行車齒片耐久性、CVT和引擎的動力計/測功機系統(tǒng)等?!瘛∑渌麥y試與測量系列  ? 通用的測量儀表如數(shù)字源表、SMU源測量單元、示波器等;  ? 專業(yè)的半導體特性分析儀、IV/CV/PIV分析儀;  ? 極弱信號測量儀器如靜電計/高阻計/微電流pA計、納伏表、微歐姆計;  ? 極微小物理/化學變化測量工具,高靈敏度+準度的電容電橋;  ? LED/OLED/LD/PD及LED照明產(chǎn)品的光色電測量系統(tǒng);  ? LED/LD的老化與可靠性測試系統(tǒng);  ? 四探針測量系統(tǒng);  ? 變形IV/微力測試系統(tǒng);  ? 射頻/微波網(wǎng)絡(luò)分析儀;  ? 負載牽引Load Pull系統(tǒng);  ? 低溫膨脹計;  ? 納米微定位器/微注射器;  ? 電生理實驗室使用的拉針儀;  美亞先科技持續(xù)追蹤新的科技領(lǐng)域、前沿學科的動向,引入的產(chǎn)品線仍在不斷優(yōu)化和擴充中。既可以直接在網(wǎng)站中按照產(chǎn)品分類進行查找、也可按照代理品牌或者應(yīng)用方案分類來查找,以便我們的廣大客戶可以快速便捷地找到所關(guān)注的產(chǎn)品、應(yīng)用等有價值的信息。為了增強用戶的產(chǎn)品體驗,在充分利用電話、網(wǎng)絡(luò)溝通工具解答產(chǎn)品信息、應(yīng)用咨詢的基礎(chǔ)上,對主要產(chǎn)品我們還可以免費提供試用服務(wù)。  美亞先科技已經(jīng)與多家跨國公司建立了良好的合作關(guān)系,成為多個公司在中國大陸、香港澳門市場的代理或代理,包括中國臺灣奕葉(EverBeing)探針臺系列;美國安登?海格林(Andeen-Hagerling)的電容標準與電容橋系列;美國歐姆實驗室(Ohm-Labs)的電阻標準/分流器/分壓器系列;美國Thermo Gauge的高溫黑體爐和輻射率測量系列;英國時代電子(Time-Electronics)的電阻箱/電容箱/電感箱、多功能校準器及電流、電壓、溫度、壓力等的現(xiàn)場校準器系列;車輛檢測系列+數(shù)據(jù)采集與工業(yè)控制系列;韓國Nanoscope Systems的激光共聚焦顯微鏡系列+便攜式拉曼光譜儀系列;美國Sutter微操縱器/拉針儀系列;美國AMETEK可編程電源系列;美國Vektrex光電測試與老化系列;美國 GGB射頻微波(RF+MW)探針系列;美國Keysight/Agilent、Tektronix/Keithley、Tegam電子測量儀器系列等?! ∶纴喯瓤萍加邢薰究偛课挥诒本?,在上海和廣州設(shè)有辦事處;在為廣大中國客戶帶來*的、性價比更高的產(chǎn)品的同時,更加積極地為客戶提供的服務(wù),已經(jīng)與多家公司合作建立了中國區(qū)技術(shù)支持與服務(wù)中心,解決相關(guān)的技術(shù)、應(yīng)用、備品備件及維修等問題,我們?yōu)槿克郛a(chǎn)品,提供完善的保修和售后服務(wù),使您使用無后顧之憂。同時,基于多年的積累的經(jīng)驗,也可為別的品牌提供維修與部件更換服務(wù),包括但不限于 CASCADE、Micromanipulator、Signatone、儀準、展芯、鑫志尚/Semishare、Guildline等?! ∶纴喯瓤萍嫉募夹g(shù)人員,熱忱歡迎您通過網(wǎng)站、電子郵件、電話手機、微信、商橋等與我們聯(lián)系,促進并實現(xiàn)歐美和亞洲的*技術(shù)與中國市場的融合、共享與發(fā)揚的使命。
電子探針
MProbeVis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量
薄膜測厚儀 產(chǎn)品信息
MProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導體(硅,單晶硅,多晶硅),半導體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被MProbe Vis測厚儀測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導體(硅,單晶硅,多晶硅),半導體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)。
測量范圍: 15 nm -50um
波長范圍: 400 nm -1100 nm
MProbe Vis薄膜測厚儀適用于實時在線測量,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。
測量指標:薄膜厚度,光學常數(shù)
界面友好強大: 一鍵式測量和分析。
MProbe Vis薄膜測厚儀實用的工具:曲線擬合和靈敏度分析,背景和變形校正,連接層和材料,多樣品測量,動態(tài)測量和產(chǎn)線批量處理。


性能參數(shù):

基本規(guī)格
精度準確度穩(wěn)定性光斑大小樣品尺寸
0.1Å or 0.01% (greater of)0.2% or 10A (greater of)stability 0.2A or 0.02% (greater of)2mm standard (optional to 20µm)from 4mm
s.d. of 100 thickness reading of 100nm SiO2/Si calibration samplefilmstack dependent2 sigma over 20 days (100 measurements daily) on 100nm/Si calibration sample  
 
系統(tǒng)參數(shù)
型號波長范圍(nm)光譜儀/探測器光源厚度
Vis400-1100Spectrometer F4/Si CCD 3600 pixels/ ADC- 16 bitTungsten-Halogen15nm- 75µm
UVVisSR200-1100Spectrometer F4/Si CCD 2048 pixels/ ADC- 16 bitDeuterium/Tungsten-Halogen1nm-75µm
HRVis700-1000Spectrometer F4/Si CCD 2048 pixels/ ADC- 16 bit /resolutionTungsten-Halogen1µm-400µm
UVVis-RT200-1000F4/Si CCD 2048 pixels/ ADC 16 bit/Optical Switch(Reflectance & Transmittance)Tungsten-Halogen1nm-75µm
NIR900-1700F2 Spectrometer InGaAs CCD 512 pixels: ADC- 16 bitTungsten-Halogen50nm- 85µm
VisNIR400-1700Two spectrometer channels/ detectors (F4 Si 3600 pixels CCD and F2 InGaAs 512 pixels PDA) /ADC- 16 bitTungsten-Halogen10nm- 85µm
UVVis-NIR200-1700Two spectrometer channels/ detectors (F4 Si 3600 pixels CCD and InGaAs 512)/ ADC – 16 bitDeuterium/Tungsten-Halogen1nm-85µm
VisXT800-870F4 spectrometer/Si 2048 pixels CCDTungsten-Halogen10µm-1400 µm
 


關(guān)鍵詞:測厚儀 光譜儀
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