◆日本分光FTIR的概要
　　新型FT/IR-4000、6000系列、通過硬盤的化以及高靈敏度、高安定和測量程序的更新，達(dá)到了操作性的提高。FTIR通過硬件和軟件高水平融合大大消減了測量所需工夫和時間。
　　硬件采用以往產(chǎn)品中積累的24位A/D轉(zhuǎn)換器低噪音電氣系統(tǒng)的高靈敏度以及DSP技術(shù)的高準(zhǔn)確度的移動鏡控制、通過角隅棱鏡可以提高安定性，在短時間內(nèi)得到高品位的光譜。另外通過重組的測定程序進(jìn)行即時數(shù)據(jù)處理功能、預(yù)掃描時可以設(shè)定的測量以及解析條件、可消減測量后的數(shù)據(jù)處理的工夫和時間。
　　◆多量程測量　?。ㄉ蠄D為對應(yīng)寬波數(shù)的金剛石ATR測量數(shù)據(jù)）
　　多量程測量（FT/IR-6000series)
　　自動BS交換組和自動窗切換組、或者自動接口閥組的結(jié)合、可在真空狀態(tài)下自動連續(xù)測量寬波數(shù)范圍。
　　◆FT/IR-4000系列的特征　　●對應(yīng)IQ附件
　　●大型樣品室
　　●免維護(hù)光學(xué)系統(tǒng)
　　●可以安裝高靈敏度檢測器
　　●標(biāo)配自動驗(yàn)證功能
　　◆FT/IR-6000系列的特征　　●超高分辨率0.07cm-1
　　●信噪比55000：1（FT/IR-6800）
　　●快速掃描測量
　　●進(jìn)掃描測量
　　●測量波數(shù)可擴(kuò)展為25000cm-1～10cm－1
　　●可對應(yīng)真空
　　◆重組軟件
　　▼概要
　　除了光譜測量、推薦測量、觀測圖比較、定量等多種測量功能以外、還有即時數(shù)據(jù)處理、縮放工具欄、縮略圖等新的功能、提供舒適的操作性。另外、可根據(jù)使用目的構(gòu)建專用畫面。
　　▼即時數(shù)據(jù)處理
　　根據(jù)即時數(shù)據(jù)處理、可設(shè)定的數(shù)據(jù)處理。　　▼其他的特長
　　1、顯示測量信息、測量條件、數(shù)據(jù)處理的順序
　　2、確認(rèn)光譜比較（定性）定量的結(jié)果
　　3、通過自我診斷、隨時檢查裝置的狀態(tài)
　　4、通過即時數(shù)據(jù)處理功能、確認(rèn)測量中的數(shù)據(jù)處理結(jié)果、測量中可以和以前測量的數(shù)據(jù)疊加
　　5、通過縮略功能可以瞬時確認(rèn)目標(biāo)波峰以及官能基信息
　　6、測得的光譜登陸到縮略圖、通過鼠標(biāo)操作光譜視圖可實(shí)現(xiàn)光譜的疊加
　　▼Sadtler的檢索以及部分結(jié)構(gòu)解析支援程序　　FT/IR-4000、6000系列配置了作為數(shù)據(jù)檢索軟件深受好評的Sadtlerd的KnowItAll.配置了與試劑及聚化物相關(guān)的一萬兩千張光譜圖的數(shù)據(jù)庫以及日本分光獨(dú)自的有機(jī)，無機(jī)，高分子大約400張光譜圖作為標(biāo)配，程序安裝當(dāng)天可以使用。另外，利用此程序，可將測得的光譜峰值與數(shù)據(jù)庫中登錄官能團(tuán)信息進(jìn)行核對，迅速查出條件一致信息。
　　◆紅外顯微鏡
　　IRT-7200詳細(xì)信息

　　▼IRT-7200
　　紅外分析的成像測量對樣品的化學(xué)構(gòu)造可視化分析是的。使用單素子檢測器的紅外顯微鏡和自動樣品臺組合也可以進(jìn)行映射測量、但是缺點(diǎn)是構(gòu)造的原因?qū)е聹y量時間過長。IRT-7200搭載16通道的MCT型線性陣列檢測器、和高速樣品臺組合測量時間是過去的測量方法的1/100。
　　IRT-5200詳細(xì)信息　　▼IRT-5200
　　紅外分光光度計(jì)是各個領(lǐng)域通用的分析裝置。其中，在產(chǎn)品開發(fā)，品質(zhì)管理以及生物制藥等領(lǐng)域微小區(qū)域的紅外分光分析是的方法，并且要求高性能，高功能化。IRT-5200是為了滿足這種需要而誕生的紅外顯微鏡。智能映射功能的手動樣品臺也可以測量映射。
　　IRT-1000詳細(xì)信息　　▼IrtronμIRT-1000
　　Irtronμ是微型樣品取樣配件，是為了滿足微小，微量樣品的取樣而誕生的。紅外顯微鏡所必需的功能都濃縮到小巧的機(jī)箱中、實(shí)現(xiàn)小型、輕量、低價(jià)。因?yàn)槭前惭b在FTIR主機(jī)的樣品室內(nèi)、所以和其他的配件一樣比較容易安裝和拆卸。
　　◆FTIR用配件　　一次反射ATR
　　ATRPROONE
　　▼ATR（全反射吸収測量）
　　光從折射率的大的物質(zhì)(棱鏡)到小的物質(zhì)(樣品)時，如果入射角比臨界角大就會發(fā)生全反射。讓樣品緊貼棱鏡的表面若干滲入試料表面表層部的話，就會被吸收發(fā)生全反射。利用這個全反射光可得到表層部的吸收光譜。
　　ATRPROONE使用微小的棱鏡，粘接性好，并且因?yàn)榕c樣品的接觸面積小所以甚至能測量比較小的樣品以及表面粗糙樣品。棱鏡的種類有三種，ZnSe，Ge，鉆石，鉆石的棱鏡有兩種，一種為表面涂反射防止膜的高通量類型和沒有涂膜的可測量到30cm-1的類型。　　▼高靈敏度反射測量裝置金屬面和入射面平行的偏光成分的光入射時，入射光和反射光的電矢量產(chǎn)生干涉并增強(qiáng)，在金屬表面形成垂直的定波。定波和金屬表面薄膜的相互作用吸光，和透過法相比靈敏度增大1位數(shù)到2位數(shù)。▼漫反射測量裝置
　　光照在粉末樣品上，光的一部分在粒子表面產(chǎn)生正反射，其他的光進(jìn)入樣品內(nèi)部，在粒子里重復(fù)透過，反射，散亂后射出。測量這種擴(kuò)散反射光的方法成為漫反射法。
　　◆規(guī)格
　　▼FT/IR-4600/4700

型號名稱	4600	4700
測量波數(shù)范圍	7800～350cm-1
測量波數(shù)擴(kuò)張范圍*1	15000～2200cm-1、5000～220cm-1
分辨率	0.7cm-1	0.4cm-1
S N 比	25000:1	35000:1
檢測器 （選項(xiàng)）	DLATGS（帶溫控） (MCT-N、MCT-M、MCT-W、Si光電二極管、InSb、InGaAs)
分光器 （選項(xiàng)）	Ge/KBr (Si/CaF2、Ge/CsI)
光源 （選項(xiàng)）	高光譜線陶瓷光源 (鹵素?zé)?
干渉儀	45゜入射麥克爾遜干涉儀 角隅棱鏡、自動校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)、DSP控制密閉型
吹掃	干渉儀、樣品室、檢測器部對應(yīng)
快速掃描	選項(xiàng)0Hz、16cm-1)
主機(jī)	尺寸60（W）×645（D）×290（H）mm（主機(jī)） 重量33kg（主機(jī)）

　　▼FT/IR-6600/6700/6800
　　

型號名稱	6600	6700	6800
測定波數(shù)範(fàn)囲	7800～350cm-1
測量波數(shù)擴(kuò)張范圍	25000～10cm-1
分辨率	0.4cm-1	0.25cm-1	0.07cm-1
S N 比	45000:1	47000:1	55000:1
檢測器 （選項(xiàng)）	DLATGS（帶溫調(diào)） MCT-N、MCT-M、MCT-W、Si光電二極管、InSb、InGaAs DLATGS（PE窗）、Si輻射熱測量計(jì)
分光器 （選項(xiàng)）	Ge/KBr (寬帶域Quartz、Si/CaF2、寬帶域KBr、Ge/CsI 麥拉（5、12、25、50μm、寬帶域型）(選項(xiàng)：自動BS交換組)
光源 （選項(xiàng)）	高光譜線陶瓷光源 鹵素?zé)?、水冷式高圧水銀光源
干渉儀	28゜入射麥克爾遜干涉儀 使用角隅棱鏡、自動校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)、DSP控制密閉型
對應(yīng)真空密閉	選項(xiàng)
吹掃	干渉儀、樣品室、檢測器部對應(yīng)
快速掃描	選項(xiàng)（20Hz、16cm-1)		標(biāo)準(zhǔn)（20Hz、16cm-1)
步進(jìn)掃描	選項(xiàng)
主機(jī)	尺寸：600（W）×670（D）×315（H）mm（主機(jī)） 重量：約56kg（主機(jī)）