XDL / XDLM / XDAL

憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL® 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。

XDL臺式測厚儀特性：

·         X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務

·         由于測量距離可以調節(jié)（較大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件

·         通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實現(xiàn)自動化的批量測試

·         使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量較薄鍍層（XDAL 設備）

XDL臺式測厚儀應用：

鍍層厚度測量

·         大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量

·         電路板上較薄的導電層和/或隔離層

·         復雜幾何形狀產品上的鍍層

·         鉻鍍層，如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

·         氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量

材料分析

·         電鍍槽液分析

·         電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層分析

蘇州優(yōu)儀惠測儀器有限公司經過長年的實踐積累，廣泛的廠家合作，具備了一支在材料分析儀器領域從業(yè)多年的專家隊伍，能為客戶提供售前咨詢、設計選型、安裝調試、售后保障等一站式服務。主要服務產品有：手持式光譜儀、火花直讀光譜儀、材料拉伸試驗機、沖擊試驗機，試驗機，三坐標，金相顯微鏡等產品。