XTU-A X熒光光譜儀性能優(yōu)勢：

下照式設計：快速方便的定位各種形狀的樣品，滿足一切測試所需。

無損變焦檢測：擁有手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm。

微聚焦射線裝置：可測試各微小的部件，小檢測面積可達0.04mm²。

高效率的接收器：在檢測0.01mm²以下的樣品時，幾秒鐘也可達到穩(wěn)定性。

XTU-A X熒光光譜儀技術參數(shù)：

測量元素范圍：CI(17)-U(92)

涂鍍層分析范圍：Li(3)-U(92)

分析軟件：EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素和有機物厚度也可分析

測試程式添加：1862條測試程式免費提供，也可編輯新程式

軟件操作：人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤

X射線裝置：升壓發(fā)射一體高分子聚合式W靶微聚焦射線管

放大倍數(shù)：光學38-46X，數(shù)字放大40-200倍

樣品臺尺寸：500mm*360mm

樣品可放置區(qū)域：480mm*320mm*205mm（C型開槽設計，特殊測試時可以超出區(qū)域放置樣品）

外部尺寸：540mm*430mm*475mm

電源：交流220V 50HZ  

功耗：大120W（不包括計算機）

冷卻系統(tǒng)：對流通道過濾式風冷

保養(yǎng)升級模塊：軟硬件模塊化

環(huán)境要求：使用時溫度：10℃-40℃ 存儲和運輸時溫度：0℃-50℃ 空氣相對濕度：≤80%

重量：約45KG

隨機標準片：十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu

其他附件：電腦一套、噴墨打印機、附件箱