一、超低硅分析儀 XRF-1430概述
汽油在煉制過程中使用了含硅的試劑或催化劑，這些硅化合物在汽車發(fā)動機中無法*燃燒，時間一長硅的沉積物會造成氧氣傳感器失效等故障，因此汽油中硅元素的檢測被列入國家標準制定范圍之列。
針對硅元素的檢測儀器，主要有ICP和XRF兩種方法，相比于ICP方法，XRF方法使用方便，無需專業(yè)經(jīng)驗人員即可操作使用，單波長色散X射線熒光光譜儀（MWD XRF）更具有高靈敏度以及*穩(wěn)定性等特點，是輕松應對超低硅含量分析的利器。
依賴高通量雙向曲面彎晶核心技術(shù)，進一步提升制造工藝，保證光路系統(tǒng)的精密度，成為世界上shou家真正能夠?qū)⒐铏z出限降低到1 ppm以內(nèi)的X射線熒光光譜儀制造廠家。
比較項 | ICP | MWD XRF（DUBHE-1430） |
原理 | 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀 | 單波長色散X射線熒光光譜儀 |
消耗 | 高純氬氣、吹掃用高純氮氣、矩管，消耗約1000元/天 | 無需鋼瓶氣體 樣品杯與樣品膜，消耗4元/樣品 |
結(jié)果準確性 | 影響因素：氣體純度、燃燒充分性、光柵移動重復性、干擾元素共存譜線 | 只針對硅元素進行高靈敏度檢測，無任何元素譜線干擾 |
操作方便性 | 需要有經(jīng)驗的操作人員，對測試數(shù)據(jù)有解析能力 | 使用方便，步驟簡單，無需經(jīng)驗即可操作，操作者對測量結(jié)果無影響 |
檢出限 | 硅方法檢出限~0.15 ppm | 硅方法檢出限~0.6 ppm |
ICP與MWD XRF（DUBHE-1430）比較表
測量原理：單波長色散X射線熒光光譜儀
Monochromatic Wavelength Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer（MWD XRF）
符合標準：ASTM D7757
二、超低硅分析儀 XRF-1430特點
靈敏：高選擇性檢測硅元素，檢測限達到0.6 ppm，是針對硅元素靈敏的X射線熒光光譜儀
穩(wěn)定：XFS（X-Ray Fixed System）專li技術(shù)，光路工廠精密調(diào)諧后，不再產(chǎn)生位移或偏差，大限度的保證了儀器的*穩(wěn)定性。
5 ppm汽油樣品，*測試RSD值小于7%。
快速：單個樣品準備時間小于10 s；單個樣品分析時間長1000 s；開機10 min內(nèi)即可測試樣品
經(jīng)濟：單個樣品消耗小于4元/樣品，無氣體、溶劑等消耗
方便：使用ESP：Easy Sample Prepare裝置，使得樣品杯與膜成型變得簡單；長時間使用無硬件更換；無需經(jīng)常校正標準曲線
三、技術(shù)參數(shù)
| 序號 | 項目 | 技術(shù)參數(shù) |
| 1 | 低檢出限： | 0.6 ppm（異辛烷基體中硅） |
| 2 | 準確度： | 2±0.6 ppm,5±0.8 ppm，10±1 ppm |
| 3 | 穩(wěn)定性： | 5 ppm標樣連續(xù)測試15次，RSD值10%以；同臺儀器15天以內(nèi)測試（每天兩次），RSD值15%以內(nèi) |
| 4 | 線性： | 0、1、2、5、10、50 ppm硅標樣，線性99.9%以上 |
| 5 | 測試時間 | 500 s—1000 s |
